会议速览

北京举办：立足首都科创高地，汇聚全国优质学术与产业资源

名校主办：北京信息科技大学权威主办，专业底蕴雄厚

大咖领衔：国家级人才与顶尖学者带来前沿主旨报告

产学研融合：高校 + 企业协同，推动科研成果高效转化

双检索保障：EI Compendex、Scopus 稳定检索，往届可查

高效审稿：7 个工作日快速通知，全英文规范出版

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重要信息

会议官网：www.oidt.org              

会议时间：2026年10月30 日-11月1日                

会议地点：中国 北京             

接受/拒稿通知：投稿后7个工作日内                

收录检索：EI Compendex、Scopus   

大会简介

        第二届光学成像与检测技术国际学术会议（OIDT 2026）将于2026年10月30 日-11月1日在中国-北京隆重召开。会议将围绕“光学成像”、“检测技术”等相关最新研究领域，为来自国内外高等院校、科学研究所、企事业单位的专家、教授、学者、工程师等提供一个分享专业经验，扩大专业网络，面对面交流新思想以及展示研究成果的国际平台，探讨本领域发展所面临的关键性挑战问题和研究方向，以期推动该领域理论、技术在高校和企业的发展和应用，也为参会者建立业务或研究上的联系以及寻找未来事业上的全球合作伙伴。

征稿主题

如果您不确定主题是否适合投递，请咨询大会秘书

会议日程

*此为会议初步议程，具体议程以大会秘书邮件通知为准

注册费用

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