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[转载]第六届检测技术与智能系统国际学术会议(DTIS 2026)

已有 68 次阅读 2026-6-8 11:28 |个人分类:学术会议|系统分类:博客资讯|文章来源:转载

第六届检测技术与智能系统国际学术会议(DTIS 2026)

The 6th International Conference on Detection Technology and Intelligence System

会议信息

会议官网:www.icdtis.org 

大会时间:2026年12月4-6日

大会地点:中国-昆明

接受/拒稿通知:投稿后5-7个工作日

收录检索:EI, Scopus

请点击【论文投稿/报名参会】

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会议简介

第六届检测技术与智能系统国际学术会议(DTIS 2026)将于2026年12月4-6日在中国昆明举行。DTIS 2026会议旨在为从事检测技术与智能系统领域的专家学者、工程技术人员、技术研发人员提供一个共享科研成果和前沿技术,了解学术发展趋势,拓宽研究思路,加强学术研究和探讨,促进学术成果产业化合作的平台。大会诚邀国内外高校、科研机构专家、学者,企业界人士及其他相关人员参会交流。

征稿主题

检测技术智能系统
传感器技术机器人传感与数据融合
信号与信息处理系统建模与辨识
自动检测与转换技术智能无损检测
光学测量技术智能故障检测与诊断
光电测量与控制系统数据分析与大数据挖掘
检测系统运行与维护计算机控制
检测电路基础事件与数据驱动控制
光电子技术嵌入式系统与传感器网络
光学系统分析分布式控制系统
光学无损检测面向检测系统的人工智能
光电测量仪器自然语言处理

如果您对论文主题的符合程度不太确定,可直接咨询大会秘书 (看到马上回复),有效提高中稿率!

请点击【论文投稿/报名参会】

会议议程

日期

时间

内容

2026年12月4日

13:00-17:00

报名注册

2026年12月5日

09:00-12:00

主题报告

12:00-14:00

午餐时间

14:00-17:30

口头报告

18:00-19:30

晚宴

2026年12月6日

09:00-18:00

学术考察

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参会方式

(注:会议有主讲报告、口头报告及海报展示环节)

1、作者参会:一篇录用文章允许一名作者免费参会;

2、口头演讲:申请口头报告,时间为15分钟;

3、海报展示:申请海报展示,A1尺寸,彩色打印;

4、听众参会:只参会听讲,也可申请参与演讲及展示。

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