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第六届检测技术与智能系统国际学术会议(DTIS 2026)
The 6th International Conference on Detection Technology and Intelligence System
会议信息
会议官网:www.icdtis.org
大会时间:2026年12月4-6日
大会地点:中国-昆明
接受/拒稿通知:投稿后5-7个工作日
收录检索:EI, Scopus

会议简介
第六届检测技术与智能系统国际学术会议(DTIS 2026)将于2026年12月4-6日在中国昆明举行。DTIS 2026会议旨在为从事检测技术与智能系统领域的专家学者、工程技术人员、技术研发人员提供一个共享科研成果和前沿技术,了解学术发展趋势,拓宽研究思路,加强学术研究和探讨,促进学术成果产业化合作的平台。大会诚邀国内外高校、科研机构专家、学者,企业界人士及其他相关人员参会交流。
征稿主题
| 检测技术 | 智能系统 |
|---|---|
| 传感器技术 | 机器人传感与数据融合 |
| 信号与信息处理 | 系统建模与辨识 |
| 自动检测与转换技术 | 智能无损检测 |
| 光学测量技术 | 智能故障检测与诊断 |
| 光电测量与控制系统 | 数据分析与大数据挖掘 |
| 检测系统运行与维护 | 计算机控制 |
| 检测电路基础 | 事件与数据驱动控制 |
| 光电子技术 | 嵌入式系统与传感器网络 |
| 光学系统分析 | 分布式控制系统 |
| 光学无损检测 | 面向检测系统的人工智能 |
| 光电测量仪器 | 自然语言处理 |
如果您对论文主题的符合程度不太确定,可直接咨询大会秘书 (看到马上回复),有效提高中稿率!
会议议程
日期 | 时间 | 内容 |
2026年12月4日 | 13:00-17:00 | 报名注册 |
2026年12月5日 | 09:00-12:00 | 主题报告 |
12:00-14:00 | 午餐时间 | |
14:00-17:30 | 口头报告 | |
18:00-19:30 | 晚宴 | |
2026年12月6日 | 09:00-18:00 | 学术考察 |
参会方式
(注:会议有主讲报告、口头报告及海报展示环节)
1、作者参会:一篇录用文章允许一名作者免费参会;
2、口头演讲:申请口头报告,时间为15分钟;
3、海报展示:申请海报展示,A1尺寸,彩色打印;
4、听众参会:只参会听讲,也可申请参与演讲及展示。

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