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连续四届EI稳定检索,往届会后3个月EI检索!
评职称、毕业要求,留意截稿时间尽快投稿!
机器视觉、人工智能、图像处理、电子技术等等均高录用接收
第五届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2026)2026 5th International Conference on Machine Vision, Automatic Identification and Detection
2026年4月24-26日 , 武汉东湖学院-行政楼一楼圆形报告厅(线上/线下均可参会)
截稿时间:见官网
主办单位:武汉东湖学院
征稿主题
Track 1: 图像处理与计算机视觉
计算成像与视觉:3D成像、立体与多视图处理、计算几何,基于物理的视觉模型等...
Track 2: 模式识别与机器学习
机器学习与深度学习:深度学习、神经网络、集成学习等算法在视觉中的应用、算法规划
Track 3: 视觉检测技术与仪器
先进视觉检测技术:三维光学与精密测量、几何量动态测量、智能光学成像(如光谱检测)等...
Track 4: 工业与机器人视觉应用
智能制造与质检:工业产品自动检测(如锂电池、芯片)、预测性维护、智能物流与无人车感知等...
Track 5: 跨学科与前沿应用
医疗与生物医学:医学影像处理与分析、计算机辅助诊断、细胞识别,生物医学信号处理等...
论文出版
所有的投稿经过严格的审稿之后,最终所录用的论文将由SPIE - The International Society for Optical Engineering (ISSN: 0277-786X)出版,出版后将提交至EI Compendex和Scopus检索 。
优秀论文经扩展后可推荐至SCI评审、发表。
◆仅接受全英稿件,请将稿件投至【艾思编译】平台进行翻译;
参会形式
1、会议参会类型:口头报告、海报展示、听众参会
2、全文投稿:一篇录用文章包含一名作者免费参会;
所有参会人员均可开中英文具证明:【参会报名】
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GMT+8, 2026-4-9 22:25
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