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【SPIE出版,武汉东湖学院主办】第五届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2026)

已有 328 次阅读 2026-4-8 09:49 |个人分类:学术会议|系统分类:博客资讯

【4月截稿 | 往届会后3个月检索】第五届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2026)

连续四届EI稳定检索,往届会后3个月EI检索!

评职称、毕业要求,留意截稿时间尽快投稿!

机器视觉、人工智能、图像处理、电子技术等等均高录用接收

第五届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2026)

2026 5th International Conference on Machine Vision, Automatic Identification and Detection

2026年4月24-26日  武汉东湖学院-行政楼一楼圆形报告厅(线上/线下均可参会)

截稿时间:见官网

主办单位:武汉东湖学院

 

征稿主题

Track 1: 图像处理与计算机视觉

计算成像与视觉:3D成像、立体与多视图处理、计算几何,基于物理的视觉模型等...

Track 2: 模式识别与机器学习

机器学习与深度学习:深度学习、神经网络、集成学习等算法在视觉中的应用、算法规划

Track 3: 视觉检测技术与仪器

先进视觉检测技术:三维光学与精密测量、几何量动态测量、智能光学成像(如光谱检测)等...

Track 4: 工业与机器人视觉应用

智能制造与质检:工业产品自动检测(如锂电池、芯片)、预测性维护、智能物流与无人车感知等...

Track 5: 跨学科与前沿应用

医疗与生物医学:医学影像处理与分析、计算机辅助诊断、细胞识别,生物医学信号处理等...

其他相关主题均可投稿

 

论文出版

所有的投稿经过严格的审稿之后,最终所录用的论文将由SPIE - The International Society for Optical Engineering (ISSN: 0277-786X)出版,出版后将提交至EI Compendex和Scopus检索 。

优秀论文经扩展后可推荐至SCI评审、发表。

 

◆仅接受全英稿件,请将稿件投至【艾思编译】平台进行翻译;

 

参会形式

1、会议参会类型:口头报告、海报展示、听众参会

2、全文投稿:一篇录用文章包含一名作者免费参会;

所有参会人员均可开中英文具证明:【参会报名】



https://blog.sciencenet.cn/blog-3623968-1529387.html

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