|||
第二届先进半导体器件与集成技术国际学术会议(ASDIT 2026)2026 2nd International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Integration Technology
会议信息
会议官网:www.asdit.org
会议时间:2026年8月28-30日
会议地点:中国-江苏无锡
发表流程:【投稿】→审稿返修→录用通知→缴费→【注册参会】→电子见刊→纸质论文集→检索;
论文检索:IEEE, EI, Scopus
最终截稿时间:2026年8月14日23:59!不再延期!

会议简介
第二届先进半导体器件与集成技术国际学术会议(ASDIT 2026)将于2026年8月28-30日在中国江苏无锡举办。本次会议旨在汇聚全球半导体领域的顶尖学者、行业专家和企业领袖,共同探讨最新的研究成果和技术进展。会议将涵盖先进半导体器件的设计、制造、材料及其在各类应用中的创新,包括人工智能、量子计算和5G通信等前沿科技。与会者将有机会参加主题演讲、专题讨论和技术展示,深入了解行业动态,分享前沿经验。
我们诚邀全球的专家学者参与此次盛会,共同推动半导体技术的进步与发展。期待与您相聚无锡,共同探索未来科技的无限可能!
| 主办单位 | 江南大学 |
| 承办单位 | 江南大学集成电路学院 江南大学理学院 无锡市第三代半导体器件与集成技术重点实验室 江南大学-康讯半导体联合实验室 |
征稿主题
| 半导体器件 | 集成技术 |
| 新型半导体材料及其在器件中的应用 高性能MOSFET设计与优化 能耗效率优化的功率器件技术 超越硅的III-V族化合物半导体器件 微光电半导体传感器及其应用 半导体激光器及其新兴应用领域 石墨烯和其他二维材料器件 量子点和量子阱半导体器件 新型存储器器件:RRAM, MRAM, FeRAM 低温电子器件的挑战与机遇 高频和高功率器件的突破性技术 硅基光电子器件及其集成技术 隧穿场效应晶体管(TFET)器件研究 半导体器件的可靠性与老化机制 先进封装和互连结构对器件性能的影响 ...... | 三维集成电路及其制造工艺 片上系统(SoC)与集成方法 芯片异构集成技术 封装级集成技术的发展与创新 集成电路中的热管理技术 射频集成电路及其设计优化 人工智能与机器学习在集成电路设计中的应用 先进模拟与混合信号集成电路 电源管理集成电路技术 集成电路设计中的可靠性与安全挑战 硅光子学互连技术 超大规模集成技术的最新进展 新兴存储器集成技术 模块化MEMS与NEMS的集成应用 智能传感系统的集成与创新 ...... |
论文出版
本会议所有的投稿都必须经过2-3位组委会专家审稿,经过严格的审稿之后,最终所录用的论文将递交至IEEE出版社(ISBN: 979-8-3195-2163-7),出版后提交至IEEE Xplore、EI Compendex、Scopus检索。
会议议程
| 日期 | 时间 | 活动 |
| 8月28日 | 14:00-18:00 | 签到注册 |
| 8月29日 | 09:00-12:00 | 主题报告 |
| 12:00-14:00 | 午饭 | |
| 14:00-18:00 | 主题报告&口头汇报 | |
| 18:00-20:00 | 晚宴 | |
| 8月30日 | 09:00-12:00 | 主题报告&口头汇报 |
注册费用
| 类别 | 注册费用(人民币) |
| 投稿(双栏4页) | 3800元/篇 (学生投稿优惠200元/篇,具体可联系会议秘书申请优惠) |
| 超页费(第5页起) | 400元/页 |
摘要投稿 (免费赠送报告名额,提交摘要投稿仅作为交流展示,不提交见刊检索) | 1800元/篇 |
| 听众参会/青年学者报告/海报展示 | 1500元/人 |
【关于发票】付款后可自行在订单处申请开票:
方式①:系统自动开电子普票(无备注才可,一般实时可收到);
方式②:若无法自动开票/需开具电子增值税专用发票,需联系跟进订单的会议老师告知情况,进行人工开具。

Archiver|手机版|科学网 ( 京ICP备07017567号-12 )
GMT+8, 2026-8-17 16:24
Powered by ScienceNet.cn
Copyright © 2007- 中国科学报社