二次离子质谱( Secondary Ion Mass Spectrometry,SIMS) 是一种通过聚焦的初级离子束溅射样本表面,然后收集并分析喷射出的次级离子,从而分析固体表面和薄膜组成的技术。这些次级离子的质量/电荷比是通过质谱仪测量的,以确定表面的元素、同位素或分子组成,深度达到1到2纳米。由于从不同材料溅射出的元素之间 ...
法医调查是犯罪解决中至关重要的一环。通过分析样本材料,法医可以确定它们之间的相似或不同程度,甚至揭示这些材料的来源。这就好比材料有着独特的化学特征,就像人类指纹一样,这些特征可以被用来识别材料之间的差异或者它们的来源。现在,科学家们采用一种强大的技术,同位素比率质谱法(Isotope Ratio Mass Spectromet ...