第六届检测技术与智能系统国际学术会议（DTIS 2026）将于2026年12月4-6日在中国昆明举行。DTIS 2026会议旨在为从事检测技术与智能系统领域的专家学者、工程技术人员、技术研发人员提供一个共享科研成果和前沿技术，了解学术发展趋势，拓宽研究思路，加强学术研究和探讨，促进学术成果产业化合作的平台。大会诚邀国内外高校、科研机构专家、学者，企业界人士及其他相关人员参会交流。

征稿主题

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论文出版

本会议投稿经过2-3位组委会专家严格审核之后，最终所录用的论文将由Journal of Physics: Conference Series(JPCS)(ISSN:1742-6596)收录出版，出版后提交EI Compendex, Scopus检索。

投稿要求：

◆论文需按照会议官网的模板排版，详见官网；

◆仅接受全英稿件，请将稿件投至【论文编译】平台进行翻译；

◆文章原创未正式发表过，符合重复率要求；所有投稿将进行文献真实性检测，请务必保证参考文献可被核实DOI或相应链接。推荐使用【AI学术诚信检测平台】为您提供人工智能生成内容检测、文本相似性检测（中英文查重）、图片查重检测、参考文献风险检测。

参会方式

一篇录用文章允许一名作者免费参会；

1、口头演讲：申请口头报告，时间为15分钟；

2、海报展示：申请海报展示，A1竖版尺寸；

3、听众参会：不投稿仅参会，也可申请演讲及展示。

参会可获得会议资料（会议通知、参会证书等）

支持单位：