测试研究工作对于寻找设计中的问题，保证产品的质量有着非常重要的意义。测试业已经成为影响电子信息产业、通信产业以及软件产业等持续发展的一个重要的技术环节。近年来，我国的信息技术产业得到了快速发展，无论是电子系统及其集成电路等硬件电路设计，还是软件测试程序开发，由于愈来愈高的复杂性，使设计和测试面临极大的挑战。为了促进我国集成电路测试与软件测试领域的创新和发展，《中国科学：信息科学》2014年第10期组织出版了“测试技术”专刊。

   该专刊共包含12篇研究论文，内容涉及电路测试和DFX、容错技术和系统、软件测试和测试平台、设计验证和模拟、ATE 和测试应用、可信系统和信息安全、 安全攸关缺陷的程序分析与验证、软件系统可靠性和安全性度量和评估体系、各类实例研究与应用案例等研究领域。专刊篇目如下：

测试技术专刊

三维扫描树叶子节点和TSVs数量的优化方法

刘军, 吴玺, 梁华国, 任福继

基于脉宽收缩和累积寄存器的片上时钟抖动测试电路

冯为蕾, 冯建华, 叶红飞, 张兴

面向晶体管级广义门电路的PTM可靠性计算

肖杰, 江建慧, 梁家荣

一款用于多媒体处理的异构多核系统芯片的可测试性设计

刘辉聪, 孟海波, 李华伟, 邓家超, 李晓维

基于遗传算法的多核芯片并发追踪调试方法

高建良, 唐逸晨, 王建新, 李欣, 韩银和

考虑NBTI空穴俘获释放机制的组合逻辑门延迟预测

李军, 梁华国, 许达文, 靳松

基于栅极信号的功率器件老化特征分析

李硕, 王红, 杨士元

具有小世界特性的低能耗无线传感器网络簇级拓扑研究

王潮, 胡风, 卞阳东, 徐拾义, 吴杰

基于函数调用路径的软件实现与设计一致性验证

牟永敏, 杨志嘉

模糊测试技术研究

李红辉, 齐佳, 刘峰, 杨芳南

一种对程序故障行为和失效行为的聚类有效性验证方法

张丹青, 江建慧, 陈林博

基于分支限界搜索框架的测试用例自动生成

邢颖, 宫云战, 王雅文, 张旭舟

敬请关注！