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综述:芯片封装测试产业上的功能安全

已有 1296 次阅读 2020-4-29 11:34 |系统分类:论文交流| 功能安全, 故障率预估, 硬件架构指标, 随机硬件故障概率指标, 软件工具使用信赖度

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吴世芳,潘进豊    

华证科技车电功能安全服务事业处,台湾 新竹 30078

作者简介:吴世芳(1964—),男,台湾云林人,1989年国立成功大学矿冶材料硕士,曾在Foundry及IC设计公司RD部门服务逾25年,目前任华证科技车电功能安全服务事业处总监,合肥蔚思博检测以及TUVNORD功能安全首席顾问。

摘要: ISO 26262 道路车辆功能安全标准是以产品功能安全设计导入为核心,同时包含产品安全生命周期中的制造环节。封装测试是半导体制造过程中重要的一环,研究工作着重在芯片从设计到封装测试的功能安全任务链接、转移与执行,包含封装厂商如何在芯片设计前端提供封装故障率预估,以评估硬件架构指标和随机硬件故障机率指标,确定功能安全设计的符合性。将产品设计中与安全相关的关键参数在量产过程中得到适当的管制,确保功能安全设计在产品上的实现。同时评估应用于封装设计、测试软件设计的软件工具信赖度,以及增强封装可靠度以减小故障率等课题。

关键词: 功能安全, 故障率预估, 硬件架构指标, 随机硬件故障概率指标, 软件工具使用信赖度, 封装测试

引用本文

吴世芳, 潘进豊. 芯片封装测试产业上的功能安全[J]. 电子与封装, 2020, 20(4): 040101 .

WU Shifang, PAN Jinli. Topics on ISO 26262 Functional Safety for IC Packaging and Testing Vendor of Semiconductor[J]. Electronics and Packaging, 2020, 20(4): 040101 .




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