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毫无疑问,氧缺陷在CeO2的化学过程中起着至关重要的作用,但就氧表面物质是如何产生的以及氧在原子水平上是如何储存的,人们所知甚少。氧气分子在表面规则的化学计量CeO2的吸附是惰,甚至只能在低温下在CeO2(111)表面观察到物理吸附的氧。这意味着氧只能与氧化铈表面的缺陷位点发生反应,如台阶、边缘、角落、氧空位或它们的聚集处的低配位原子。当O2-以中性氧原子形式从CeO2颗粒表面逸出时,留下了两次并局域到最邻近的Ce4+上。因此,氧空位与两个Ce3+ 4f1离子的形成有关,是一个双电子供体中心。表面氧空位模型不能解释超氧氧自由基的形成
O2分子与O空位有强烈的相互作用,一个O原子填充空位,另一个O原子从表面指向外。分子氧与还原氧化铈的相互作用形成顺磁性O2-超氧物种,具体地是分子氧与还原的二氧化铈颗粒表面配位不饱和的Ce3+离子,该物种可以EPR,IR(1125 cm-1)和拉曼光谱(1125 cm-1)进行检测。类似地,通过IR或拉曼光谱(830-870 cm-1) 检测到的抗磁性O22-过氧物种。O2在氧空位上的吸附明显地消除了氧缺陷,并导致表面形成过氧基团O22-。那CeO2颗粒表面的Ce3+位点是否可以活性O2分子,形成超阳氧物种O2-的“单电子活性中心”呢?原则上,如果电子迁移率高,O2-物种应该可以通过O2吸附在还原CeO2-x颗粒表面活性位点上形成,例如处于CeO2颗粒表面台阶,边缘,顶角等晶格扭曲处的配位不饱和Ce3+位点。具体地,从Ce 3+的4f 1中的转移一个电子到被吸附O2分子的反键轨道π*。这种现象确实在其他还原性氧化物(如TiO2)上观察到。
dx.doi.org/10.1021/jp111147y | J. Phys. Chem. C 2011, 115, 5817–5822
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