此文来自与SEIKO的工程师交流所得，一些话是他所说得，不知物理的和电子的内在的原因

==================

1. AFM相图是在轻敲模式下得到的，探针是晶片的驱动下振动的，因为探针要与样品作用，因此探针的振动与晶片的振动是不同步的，两个振动曲线的振动的相位差是就是相图的值。

2. 两个振动不只在振幅上有差别，在频率和波形上都有差别。

3. 通常，粘性大的，相差大，因为反应滞后；粘性小的，相差小；但是这不是确定的。

4. SEIKO的机器一些机器对于相图是不归零的，如SPA400系列，而VEECO的是归零的。不归零的话得到的相图的值是某个不过零的范围，如-10~-40,30~50degree，而归零后则是0~N degree。

5. 相图比高度图灵敏度高，因为相图是由晶片与探针的相位差直接得到得，而高度图是经过一系列的反馈计算得到的。（为什么呢？）这也是为什么高度图很好扫好图，而相图很难得到好图，受参数影响很大，甚至无法得到好的相图。前段时间，Cavendish实验室的报告中，他们的相图也是很糟糕，各种bug。

6. 严谨地讲，相图中光凭相位差是不能区别两相分别是什么，因为相位差是不固定得，虽然大部分达不到这么大，通常都在5~50间。好在我等这样的有机电子学对薄膜的了解是不需要区别的，只需要说相分离的尺度是多少。工程师也不知道，“你们凭经验吧”，:(

7. SPA 400中的软件SPI3000等中的Topo(servo)是形貌的一种，而topo(sens)是早期机器的一种形貌计算方式，现在已经不用了。

8. SEIKO的NC Force 相当于Veeco的error,是指高度图中的误差值，比如说扫光栅时，在棱角处，他的NC Force就很大，可以用导数来理解，测试时开着这个图有利于理解扫描时样品表面的状态。

9. parameter中的trace mode和trace distance是在扫磁性时（MFM）时的设置，先扫一条线的tapping，之后抬起一段距离(trace distance)，再扫这条线的磁性质等。

10. SPA的几种holder是不能混用的，AFM、DFM，c-AFM。DFM有晶片来驱动振动，c-AFM中有导线测试电流。而一些veeco的holder是可以通用的，这也是前几天某德国人做报告时做了一个很无聊的工作，拿tapping mode找到一个DNA，然后切换到contact mode随意挪动它，再用tapping mode扫图，用同一根针。靠，有本事他拿SEIKO的机器试试，换holder，找样品，累死他。多功能的holder和针就是对于特别的测试，如电、力、磁等，就是好啊，赞一下Veeco Demension V.

2011-10-5 10:37:16