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AFM不是一个严谨的好手段

已有 3026 次阅读 2011-7-16 11:15 |系统分类:科研笔记

AFM不是一个严谨的好手段，同样的膜相差1u的地方就差别很大，这也是CC Han鄙视纳米表征的主要原因，而且还那么难调试，还要看机器的心情。X射线是个好东东，大面积，统计学，深层次。。。有机会玩一下

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