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Liu Yang; Rong Jin; Mummert, L.; Sukthankar, R.; Goode, A.; Bin Zheng; Hoi, S.C.H.; Satyanarayanan, M.;
Pattern Analysis and Machine Intelligence, IEEE Transactions on
Volume: 32 , Issue: 1
Digital Object Identifier: 10.1109/TPAMI.2008.273
Publication Year: 2010 , Page(s): 30 - 44
IEEE Journals
Abstract | Full Text: PDF (2770 KB)
这篇文章是提出了种样本距离测度的新方法,第一印象挺吓人的:用了很多数学不等式,对目标函数进行近似和优化,转来来去头有点晕,但是认真看看发现有问题。
先说创新点:
问题:
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