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为了忘却的纪念-二次离子质谱操作简述及相关会议介绍

已有 3678 次阅读 2014-5-15 10:40 |个人分类:气固反应|系统分类:科研笔记

关注:

1)  二次离子质谱的功能

2)  二次离子质谱的原理

3)飞行时间二次离子质谱的操作

    可以调节的参数:氩离子枪电流、溅射清洗时间、氩离子枪电压等来改变溅射出的离子种类及数量,二次离子质谱分析器的调节来调节飞行时间以保证出谱质量, 二次离子质谱的数据导出

问题:1)何进行相对含量分析,数据如何导入和导出

        2)样品清洗时是否应该开束流Beam on,还是仅仅只开Raster(光栅) on就可以了,如何判断样品的清洗程度?

操作:

1. 开时间质谱干泵、分子泵;Model 1403A氩离子枪的CF35旁抽阀;

2. 打开电源:

    HV  Supply unit

    Voltage  controller

    logic controller

    以及

    Model  1403 A电源(注意:Model 1403A工作时,应使面板上显示的读书<0,即真空达到某一定值;这可以打开QGXT/CODE,点击真空联锁+随机测试,来检验真空是否达到工作要求)

     

3. 打开Swaglok 阀门,调节微调阀引入Ar,Ar气引入后使真空保持在不高于1x10-8 mBar(微调阀开三圈至10刻度,关时,关三圈至20刻度)

4. 打开时间质谱转换器(又称微通道检测器)电源(质谱筒右侧)

5. Model 1403 A加压,通过调节lens Voltages旁的Energy 摁钮,将电压调至5000 V;

   电流一般选10 mA (实验结束之后,应打至standby档)

6. 开ToF-SIMS高压,即ToF-MS Voltage controller上的键扳至operate档和protect档,ToF-MS logic controller上的键摁下Enable键(HV高压指示灯亮)。

7.打开电脑,打开数据采集软件:gramsn/koreview/simfc,

   可以先Raster on清洗样品数分钟,清洗完之后打到off;

   将束流打开Beam on,点击软件商的Acquire曲谱,曲谱结束后影响有响声,此时点击getdate 保存并分析数据

注意:1) 取谱完了之后应及时关闭Beam on;

        2)调整样品位置前必须关闭Beam及MS-高压(摁Disable,确保HV灯灭)

        3)正-负谱切换时,不能开SIMS高压,切换完了之后可以开高压。

        4) SIMS高压开时,不能通Ar,通完Ar待平稳后可开高压(HV红灯亮起)



中国质谱学会

http://www.cmss.org.cn/




二次离子质谱相关会议


http://www.instrument.com.cn/news/20160330/187635.shtml

    第六届中国二次离子质谱会议将于2016年10月8-11日在中国科学院大连化学物理研究所(地址详见附件1)举行。会议将为我国二次离子质谱界的学术研讨、技术交流与合作提供平台,推动二次离子质谱的发展,促进二次离子质谱技术在各领域的应用。

   

一、发起单位和承办、协办单位

  1.发起单位:中国质谱学会

  2.承办单位:中国科学院大连化学物理研究所中国科学院分离分析重点实验室

  3.协办单位:清华大学分析中心、国家科技基础条件平台北京离子探针中心、中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室、中国科学院半导体研究所半导体照明联合创新国家重点实验室、中国矿业大学煤炭资源与安全开采国家重点实验室、中国科学院广州地球化学研究所同位素地球化学国家重点实验室、中国科学院活体分析化学重点实验室、中国科学院地质与地球物理研究所岩石圈演化国家重点实验室

  二、会议组织机构

  1. 大会主席

  李海洋、凌永健

  2.学术委员会

  主任:凌永健、汪福意

  委员:查良镇、刘敦一、周新华、李金英、翁禄涛、麦富德、赵永刚、陈焕文、梁汉东、

  李海洋、曹永明、马农农、韦刚健、朱梓华、李献华

  3.组织委员会

  主任:李海洋

  委员:张玉海、李展平、赵丽霞、李秋立、张磊、夏小平、肖国平、文彦杰、杨莉、杨蔚、

  侯可勇、王卫国

  4.会务组

  组长:花磊、王爱博

  成员:陈平、谢园园、陈创、黄卫、李金旭、鞠帮玉

  联系人:王爱博、谢园园

  电话:0411-84379510;0411-84379517

  传真:0411-84379517

  E-mail:sims_china@163.com

  三、研讨专题征集

  1. 二次离子质谱仪器和理论;

  2. 地球科学中的元素与同位素分析;

  3. 核科学中的微区分析和同位素分析

  4. 材料的微区分析、表面分析和3D分析

  5. 半导体/微电子科学中的表面分析;

  6. 生命科学和临床医学中质谱原位分析、质谱成像和单细胞质谱分析;

  7. 环境科学中的微区和原位分析

  8. 微纳尺度样品的质谱分析

  9. 二次离子质谱的样品前处理方法和复杂样品分析

  10.原子探针/质谱原位分析新技术

  11.新型离子源(纳米/团簇)和后电离技术;

  12.质谱成像数据分析、数据处理、数据融合和识别方法

  注:论文摘要截止日期:2016年9月15日

  四、会议组织方式

  会议由会前课程短训、大会特邀报告、专题研讨和离子探针实验室考察参观等4部分内容组成。时间安排如下:

  10月8日:会前课程短训报道

  10月9日:会前课程短训 & 会议注册报到

  10月10日上午:开幕式和大会报告

  10月10日上午-11日上午:专题研讨、展板交流

  10月11日下午:大连化物所实验室考察与交流

  1. 会前课程短训

  学术委员会和组织委员会邀请安排二次离子质谱领域的专家教授,为研究生和青年科研人员举行1天的二次离子质谱基础、仪器和分析应用的会前课程短训(中文授课)。

  注:短训课程免费,会议为参加短训课程的成员提供免费午餐。

  2. 会议报告

  包括大会特邀报告和专题研讨。会议将邀请国内外知名学者做大会特邀报告。专题研讨包括口头报告和展板交流两部分,由组织委员会负责组织和安排。

  3. 会后实验室考察参观

  组织委员会拟安排与会代表参观中国科学院大连化学物理研究所清洁能源国家实验室分析平台、催化基础国家重点实验室、分子反应动力学国家重点实验室、大连化学物理研究所中国科学院分离分析重点实验室和化物所科技园等。

   

五、会议报名与注册

  请拟参加会议人员填写“第六届中国二次离子质谱学会议回执”(附件2),用电子邮件方式提交给会务组 (sims_china@163.com)。

  会议注册费及其缴纳方式将在第二轮通知中说明。

  中国质谱学会

  2016年3月30日


 会前课程短训

   地点:大连化物所-礼堂(详细地址请参考附件1)

  学术委员会和组织委员会邀请安排二次离子质谱领域的专家教授,为研究生和青年科研人员举行1天的二次离子质谱基础、仪器和分析应用的会前课程短训(中文授课)。

  已确认课程如下:

授课人职称单位授课题目
陈焕文教授东华理工大学质谱学原理与SIMS简介
朱梓华研究员美国太平洋西北国家实验室(PNNL)My personal experience of TOF-SIMS’ application
汪福意研究员中国科学院化学研究所SIMS在生命科学研究中的应用
李海洋研究员中国科学院大连化学物理研究所TOF-SIMS仪器进展介绍
杨尉研究员中国科学院地质与地球物理研究所Nano-SIMS在地学研究中的应用


注:短训课程免费,会议为参加短训课程的成员提供免费午餐。

  2.

  会议报告

  地点:大连化物所-礼堂(详细地址请参考附件1)

  包括大会特邀报告和专题研讨。会议将邀请国内外知名学者做大会特邀报告。专题研讨包括口头报告和展板交流两部分,由组织委员会负责组织和安排。

  大会特邀报告(排名不分先后):

  Prof. Ian Gilmore FInstP, NPL Head of Science National Physical Laboratory, UK

  个人简介:http://www.npl.co.uk/people/ian-gilmore

  Prof. Andrew Ewing, Department of Chemistry and Molecular Biology, University of Gothenburg, Gothenburg, Sweden

  个人简介:http://www2.chem.gu.se/ac/ewing/people/andy.html

  Prof. David G. Castner, Director, Departments of Bioengineering & Chemical Engineering, University of Washington, USA

   个人简介:https://www.cheme.washington.edu/facresearch/faculty/castner.html

  Prof. Jiro Matsuo, Quantum Science and Engineering Center, Kyoto University, Japan

  个人简介:http://www.ne.t.kyoto-u.ac.jp/en/information/laboratory/person/matsuojiro-fold

  刘敦一,研究员,中国地质科学院地质研究所,北京

  个人简介:http://igeo.cags.ac.cn/yjsjy/yjsds/yjsds/1644.htm

  凌永健,教授,国立清华大学,台湾

  个人简介:http://chem.web.nthu.edu.tw/files/13-1078-32017.php?Lang=zh-tw

  汪福意,研究员,中国科学院化学所,北京

  个人简介:http://acl.iccas.ac.cn/ktz/fuyiwang/fywang/

  翁禄涛,教授,香港科技大学,香港

  个人简介:http://www.cbme.ust.hk/cgi-bin/facultydetails.php?people_email=mcltweng,香港

  査良镇,教授,清华大学,北京

  个人简介:http://www.chinesevacuum.com/homepageinfo/expert.asp?hid=1542

  Keynote报告(排名不分先后):

   Prof. Zihua Zhu, Environmental Molecular Sciences Laboratory, Pacific Northwest National

  Laboratory, USA

   个人简介:https://www.emsl.pnl.gov/emslweb/people/zihua-zhu

  Prof. Xiaoying Yu, Atmospheric Sciences and Global Climate Change Division, Pacific Northwest National Laboratory, USA

   个人简介:http://www.pnnl.gov/science/staff/staff_info.asp?staff_num=5711

   薛景中,研究员,台湾中央研究院,应用科学研究中心,台湾

   个人简介:http://www.rcas.sinica.edu.tw/faculty/shyue.html



2013飞行时间二次离子质谱技术与应用研讨会在金属所召开

http://www.imr.ac.cn/xwzx/zhxw/201310/t20131023_3961714.html

 

    2013飞行时间二次离子质谱技术与应用研讨会于107日至8日在金属所召开。会议由中国二次离子质谱学委员会倡议举办,并得到中科院东北大型仪器区域中心的鼎力支持。沈阳材料科学国家(联合)实验室公共技术服务部承办了本次会议。

  张哲峰研究员代表金属所与国家实验室致辞欢迎各位参会代表。国际二次离子质谱会议国际委员,清华大学査良镇教授就二次离子质谱技术发展概况及飞行时间二次离子质谱在未来发展中的核心地位作重要讲话。来自台湾新竹清华大学、台北医学大学、清华大学、中科院化学所、中科院半导体所、中科院大连化物所、中物院核物理与化学研究所、工信部电子5所、中山大学及宝钢研究院等高校和科研机构的30余名代表参加了本次会议。

  研讨会上,国际二次离子质谱会议国际委员,新竹清华大学凌永健教授介绍了他多年从事二次离子质谱材料分析的工作成果,与会代表围绕飞行时间二次离子质谱技术在结构与功能材料研究、生物医药以及生命科学等多领域中的技术与应用,报告了近期开展的研究工作,针对半导体发光材料、靶向药物、元素与同位素定量分析、环境有害化学品检测,高分辨飞行时间质谱仪研制,神经中枢离子浓度与睡眠等方面的报告各具特色。公共技术服务部张磊副研究员介绍了近期金属所在合金中轻元素与痕量元素分析以及三维成像技术方面的进展,所内部分研究生与职工也参加了研讨会。通过交流与讨论大家普遍认为,国内飞行时间二次离子质谱技术虽然处于起步阶段,但已呈现出良好的发展势头,本次会议促进了同行之间的学习与联系,有助于国内二次离子质谱技术与应用的进一步发展。会后代表们参观了沈阳材料科学国家(联合)实验室





http://blog.sciencenet.cn/blog-567091-794631.html

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