潘安 张艳 赵天宇 汪召军 但旦 史祎诗 姚保利

中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学与光子技术国家重点实验室，中国科学院大学，中国科学院光电研究院

摘要　　作为一种新兴的无透镜相位恢复技术，叠层衍射成像技术(Ptychography)大大提高了传统相位迭代恢复算法的收敛速度和抗噪能力，具有高对比度、大视场、高分辨、无标记、工作距离长、相位不丢失低频分量等优点，在X射线、电子波段以及可见光波段等领域得到了广泛的关注并开展了大量的研究与应用。本文介绍了量化相位显微成像领域的研究现状与最新进展，特别是传统叠层衍射成像技术(Conventional Ptychography)和傅里叶叠层衍射成像技术(Fourier Ptychography)的基本原理、技术进展及相关应用，着重介绍了快速傅里叶叠层衍射成像技术及基于傅里叶叠层衍射成像的荧光显微成像技术，提出了目前面临的问题以及未来的发展趋势。

（本文发表在《激光与光电子学进展》2017年第4期，点击此处阅读全文）

引用该论文

潘安,张艳,赵天宇,汪召军,但旦,史祎诗,姚保利. 基于叠层衍射成像术的量化相位显微成像(绿色)[J].激光与光电子学进展,2017,54(4):040001.